原子力顯微鏡(AFM)通過探測(cè)針尖與樣品表面原子間的微弱作用力,實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的三維表面形貌成像??v向分辨率可達(dá) 0.01 nm;無需真空、無需樣品導(dǎo)電;可測(cè)表面粗糙度、膜厚、黏附力、彈性模量;可在液體中觀察生物樣品(如 DNA、細(xì)胞)。
AFM通過檢測(cè)微懸臂尖部與樣品表面原子間的微弱相互作用力,實(shí)現(xiàn)表面形貌及性質(zhì)的高分辨率成像。具體過程如下:
微懸臂形變:將一端固定、另一端帶有納米級(jí)針尖的微懸臂接近樣品表面,針尖與樣品原子間的相互作用力導(dǎo)致微懸臂發(fā)生形變或振動(dòng)狀態(tài)變化。
信號(hào)檢測(cè):利用光學(xué)檢測(cè)法(如激光反射法)或隧道電流檢測(cè)法,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)微懸臂的形變或振動(dòng)變化,轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。
反饋控制:通過反饋回路調(diào)節(jié)樣品與針尖的相對(duì)位置,保持相互作用力恒定,從而獲得樣品表面形貌的三維信息。
核心工作流程如下:
力檢測(cè):針尖與樣品表面原子間的作用力使微懸臂發(fā)生納米級(jí)形變 。
信號(hào)檢測(cè):激光束照射在微懸臂背面并反射到光電探測(cè)器上,懸臂的微小偏轉(zhuǎn)會(huì)引起光斑位置變化,從而將力學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào) 。
反饋控制:系統(tǒng)根據(jù)檢測(cè)到的信號(hào),通過壓電掃描器實(shí)時(shí)調(diào)整針尖與樣品的距離,維持作用力恒定,確保成像穩(wěn)定 。
AFM系統(tǒng)主要由以下部分構(gòu)成:
微懸臂與針尖:通常由硅或氮化硅制成,長度約100-500μm,厚度約500nm-5μm,針尖曲率半徑可小至納米級(jí)。
運(yùn)動(dòng)檢測(cè)裝置:采用激光反射法或隧道電流法檢測(cè)微懸臂的微小位移。
反饋回路:實(shí)時(shí)調(diào)整樣品與針尖的相對(duì)位置,維持作用力恒定。
壓電陶瓷掃描器:準(zhǔn)確控制樣品在X、Y、Z三個(gè)方向的移動(dòng),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)掃描。
圖像處理系統(tǒng):計(jì)算機(jī)控制數(shù)據(jù)采集、處理及成像,提供高分辨率三維表面圖。